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【集成電路主題網(wǎng)絡(luò)研討會預(yù)告】半導(dǎo)體集成電路制造中顯微鏡的應(yīng)用

更新時間:2022-05-18      點擊次數(shù):624


 
 
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大會介紹
我國航空航天的蓬勃發(fā)展,汽車也向電動化的趨勢不斷探索,5G時代的到來,如何確保在各種復(fù)雜環(huán)境都能保證穩(wěn)定運行,這都對新一代集成電路提出了更高的要求,對設(shè)計失誤的容忍度幾乎為0,因此必須在芯片進入量產(chǎn)之前、量產(chǎn)中,需要進行嚴(yán)格的驗證測試?;诖?,儀器信息網(wǎng)聯(lián)合深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司(“美信檢測")將于2022年5月20日舉辦“集成電路檢測與測試技術(shù)及應(yīng)用"主題網(wǎng)絡(luò)研討會,邀請業(yè)內(nèi)專家進行精彩報告分享,旨在為廣大集成電路材料行業(yè)用戶、檢測人員和相關(guān)學(xué)者提供一個線上近距離交流平臺。
 
5月20日上午10:30--11:00,徠卡顯微系統(tǒng)工業(yè)應(yīng)用工程師王海銀將為廣大觀眾及行業(yè)從業(yè)者帶來《半導(dǎo)體集成電路制造中顯微鏡的應(yīng)用》的主題報告。誠摯邀請各位踴躍參與,期待與您的交流和分享!
 
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