德國(guó)徠卡 材料分析顯微鏡 DM6 M LIBS

德國(guó)徠卡 材料分析顯微鏡 DM6 M LIBS

德國(guó)徠卡 材料分析顯微鏡 DM6 M LIBS將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比， 測(cè)定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對(duì)您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。

我們認(rèn)為有必要擴(kuò)展我們的內(nèi)部分析方法。我們決定使用DM6 M LIBS 材料分析解決方案，是基于其多功能性和易用性。我們的目標(biāo)是能夠輕松地進(jìn)行光學(xué)檢查，地形表面評(píng)估，和定性分析。 這一儀器現(xiàn)已使用一年多，我們可以肯定地說(shuō)，我們的期望得到了充分滿足。其多功能性和迅速的分析時(shí)間，使我們前期的投資得到回報(bào)。我們真的很滿意。

Hans-Ullrich Eckert, Development Manager Process Technology, GERWECK GMBH Oberfl?chentechnik, Bretten-G?lshausen (Germany)

實(shí)現(xiàn)快速精確材料分析的二合一系統(tǒng)

DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。

識(shí)別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。

優(yōu)勢(shì)概覽

與典型的電鏡方法*相比，節(jié)省 90% 的時(shí)間，而且

以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ)，快速做出自信的決策。

*可根據(jù)要求提供證明

使用 DM6 M LIBS 解決方案檢驗(yàn)金屬界面，顯示在鋼 (上層) 表面有一層鉛 (下層)。

目視和化學(xué)材料檢驗(yàn)二合一

用于目視和化學(xué)分析的二合一系統(tǒng)

1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜

無(wú)需樣品制備

完成！只需一次單擊，即可準(zhǔn)確檢查通過(guò)目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì)，從而快速簡(jiǎn)單的識(shí)別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識(shí)。

無(wú)需 SEM 樣品制備

為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省 90% 的時(shí)間？因?yàn)檫@種解決方案：

無(wú)需樣品制備和轉(zhuǎn)移；

無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié)；且

無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。

減少工作流程

將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結(jié)果為重點(diǎn)。

使用 DM6 M LIBS 解決方案的工作步驟比使用光電顯微鏡 (SEM) 進(jìn)行分析精簡(jiǎn) 3 倍。

迅速?zèng)Q定該做什么

將多種工具組合起來(lái)分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分，將在一秒鐘內(nèi)獲得所有信息，助您做出正確的決策。

在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數(shù)據(jù)，對(duì)下一步行動(dòng)做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進(jìn)行更詳細(xì)的分析來(lái)確認(rèn)污染源)。*

*基于用戶反饋

在 LIBS 檢驗(yàn)中清晰辨別的鋁顆粒。

組件清潔度分析

DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合，讓您僅使用一臺(tái)儀器和一個(gè)工作流程即可對(duì)過(guò)濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。

這樣可以更輕松地找到污染源。

做出自信的決策

通過(guò)快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)，您將得到在分析過(guò)程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢(shì)。

在清潔度分析過(guò)程中，過(guò)濾器上的污染顆粒通過(guò) LIBS 被確認(rèn)為鋼。

微觀結(jié)構(gòu)成分的評(píng)估

DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析，例如礦石、合金、陶瓷等。

無(wú)需進(jìn)行樣品制備，也無(wú)需在 2 個(gè)或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個(gè)分析工作流程全部在一臺(tái)儀器上完成。

減少占用人力資源的樣品制備

減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節(jié)省時(shí)間和資金。

硅酸鹽母巖中的含鐵相。

材料的深度剖面圖和層次分析

LIBS 的消融原理可被運(yùn)用于材料的微型打孔。

微型打孔可應(yīng)用于諸如：

深度剖面

層次分析

表面清潔。

在測(cè)定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時(shí)，深度剖面非常有用。

層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。

利用表面清潔可以去除氧化物和污染。

標(biāo)有直徑和深度的微型鉆孔示意圖 - 通過(guò) LIBS 微型鉆孔的銅合金

LIBS：您的化學(xué)分析研究利器

DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)  使定性化學(xué)分析成為可能。

單擊即可觸發(fā)分析，激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點(diǎn)。一個(gè)等離子體將會(huì)產(chǎn)生，然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。

軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對(duì)比，從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結(jié)果得到擴(kuò)充。

1. 激光脈沖穿透材料表面；
2. 誘導(dǎo)出一個(gè)等離子體，然后該等離子體分解，發(fā)出光線；且
3. 特征原子譜線的光譜發(fā)射使元素得以被識(shí)別出來(lái)。

DM6 M LIBS 解決方案：顯微鏡的貢獻(xiàn)

在利用二合一解決方案實(shí)現(xiàn)快速的材料分析工作流程方面，顯微鏡也發(fā)揮了非常重要的作用。

DM6 M 復(fù)式顯微鏡可以：

在 1.25 倍至 100 倍的大物鏡變倍范圍進(jìn)行觀察；

憑借多對(duì)比度技術(shù)，輕松看清色彩真實(shí)的材料細(xì)微結(jié)構(gòu)；

根據(jù)需要隨時(shí)進(jìn)行分析。

使用 LIBS 升級(jí)為二合一解決方案

抓住時(shí)機(jī)，為時(shí)未晚！

您是否已經(jīng)擁有一款我們的 DM6000 M 或 DM6 M 復(fù)式顯微鏡？

如果您已經(jīng)擁有，則可以充分利用這種選擇，使用 LIBS 系統(tǒng)進(jìn)行改裝，以優(yōu)惠的價(jià)格得到二合一解決方案。